随着5G/6G通信、高速串行接口、半导体器件验证及复杂电磁环境仿真等应用持续发展，测试对象不断向更高带宽、更复杂协议、更高集成度演进。与此同时，测试系统也正从传统单机测试逐步迈向自动化、智能化和高密度集成，对信号源提出了更高要求——不仅需要旗舰级信号性能，还需要具备标准机柜部署、远程协同控制及长期稳定运行能力，以满足研发验证、ATE自动化测试及智能制造产线等多样化应用需求。

面向这一趋势，普源精电（RIGOL）正式推出DG70000-R系列机架式任意波形发生器。该产品专为标准机柜集成、自动化测试系统及无人化产线打造，在延续DG70000系列旗舰级信号生成能力的基础上，采用面向系统集成的机架式工业设计，实现高性能信号源与自动化测试平台的深度融合，为高速数字、射频微波、半导体及工业自动化测试提供更加高效、灵活的信号激励解决方案。

DG70000-R与台式DG70000共享RIGOL自主研发的SiFi III信号生成平台及核心信号生成能力，覆盖2 GHz、5 GHz带宽及2通道、4通道多种型号配置。两款产品针对不同测试场景形成互补：台式机型更加适合实验室研发、现场调试等交互式应用，而机架式产品则聚焦系统集成、高密度部署及远程运维，帮助用户根据实际应用需求灵活选择部署方案。

丰富专业功能标配，覆盖更多测试场景

面对宽带无线通信、高速数字接口及复杂电磁环境仿真等应用，DG70000-R将多项专业软件功能作为标准配置，无需额外选配即可开展复杂信号测试。

产品支持1.5 GHz调制带宽及数字上变频功能，通过IQ调制可输出1024QAM、256QAM等多种数字调制信号，满足宽带无线通信标准验证需求；内置跳频模式，最小跳频间隔低至128 ns，可模拟复杂无线通信环境；高级序列编辑器支持最高16k波形片段及灵活跳转逻辑，可快速构建复杂动态电磁环境；同时支持高速接口接收一致性测试中的多种码型生成及精确信号减损，帮助工程师开展标准一致性验证及极限性能测试。

依托旗舰级硬件平台，DG70000-R能够输出高纯净度、高保真度宽带激励信号，为高速数字、射频微波及半导体器件测试提供稳定可靠的信号源保障。

面向高集成自动化测试系统设计

区别于传统台式任意波形发生器，DG70000-R采用面向系统集成的标准机架式架构，在保持旗舰性能的同时，进一步优化设备部署效率。

产品支持标准19英寸机柜安装，可直接集成至ATE自动化测试平台及工业标准机柜，实现多台设备高密度部署，有效提升系统空间利用率。紧凑型前面板配备触控显示屏，可实时查看四通道工作状态；四通道均支持AC/DC+/DC-输出及差分激励，进一步简化系统连接；结合优化散热设计及风道结构，即使在密闭机柜环境下，也能够支持7×24小时连续稳定运行，满足自动化测试系统长期可靠运行需求。

完整接口能力，满足自动化控制与远程运维

围绕自动化测试系统集成需求，DG70000-R完整保留LAN、USB 3.0、HDMI等丰富接口，支持外部波形导入、多窗口高清显示及多种外设扩展。

产品支持标准SCPI指令集程序控制及远程操控，可实现自动测试、批量控制、状态监测及远程配置，无需本地值守即可完成系统运行管理；前面板Local按键支持本地与远程控制快速切换，在保障自动化运行效率的同时，也兼顾研发调试及现场维护需求。

SiFi III技术平台，持续释放旗舰级信号性能

DG70000-R基于RIGOL自主研发的SiFi III信号生成平台，在采样率精确控制、逐点任意波生成及多通道高精度同步等关键技术方面持续优化，可输出更加纯净、稳定、灵活的测试激励信号，为高速数字、高速互连、射频微波及复杂电磁环境仿真等应用提供坚实支撑。

覆盖研发验证、系统集成与智能制造等多元场景

凭借旗舰级信号性能、机架式高集成设计及完善的自动化控制能力，DG70000-R可广泛应用于：

· 5G/6G及宽带无线通信标准验证

· 高速串行接口接收一致性测试

· 半导体芯片及高速器件激励与表征

· 复杂电磁环境模拟与抗干扰测试

· ATE自动化测试平台搭建

· 智能制造产线批量测试

无论是实验室研发验证，还是系统集成、自动化测试及工业量产，DG70000-R均能够提供高性能、高可靠、高集成的信号激励解决方案。

DG70000-R系列机架式任意波形发生器，以旗舰级信号生成能力、标准机架式高集成架构、完整的自动化控制能力及SiFi III核心技术平台，为高速数字、射频微波、半导体及工业自动化测试提供高性能信号激励解决方案。在保持DG70000系列卓越性能的同时，产品进一步满足ATE自动化测试平台、高密度系统集成及智能制造产线的部署需求，助力客户提升研发效率、优化系统集成，并加速下一代自动化测试平台建设。